12月22日，长春光机所OSA/SPIE学生协会在研发602举办国际学术讲座。讲座特别邀请了日本电气通信大学的Mitsuo Takada教授。
Takada教授讲座的题目是“Development of Fourier Fringer Analysis and Its Applications in extreme optics
metraology”。教授首先从“傅里叶条纹分析”的概念入手，回顾了傅里叶分析的发展历时，并指出70经典的傅里叶分析方法的两点缺陷，以及在这两点缺陷的影响下傅里叶分析在光谱分析和图像分析方面对最高分辨率的影响。接着，Takada教授对在20世纪八十年代提出的现代傅里叶条纹分析方法中采用干涉测量外差法和相位漂移记录技术作了简要介绍，并指出新的分析方法的优点和技术困难。他指出，传统的傅里叶分析只注重傅里叶变换的幅度特性，而忽视了相位特性的分析的优点，新的技术主要是利用相位调制，从而回复原始信号的频率，进而达成将不同的频率的信号分开的目的。最后他还介绍了新的FTM分析方法制造的传感器，在分辨率，小磁场探测，灵敏度，响应时间等的特性，并与现有的采用幅度特性制造的传感器作了详细的比较，从中也显示了，新的分析方法在图像处理和信号检测中的独特之处。
日本电气通信大学成立于1909年，前身是国家无线电通信研究所。讲座开始时，教授向大家介绍了该大学的教育和研究领域，以及对海外求学者所提供的奖学金制度等学校相关内容。Takada教授是SPIE,OSA,FELLOW,OSJ等国际知名学术协会会员，于1969年在日本电气通信大学获得本科学位，在东京大学获得硕士和博士学位，1985年作为访问学者访问了美国斯坦福大学，1990年至今一直在日本电气通信学院研究工作。多年来Takada教授在光学计量、光信息处理、图像处理以及图像处理评估等方面有着丰富的经验。讲座期间，教授和多次向参加讲座的学生提出的问题，做了一一解答。
